Dotación instrumental
Microscopia electrónica de barrido
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) Carl Zeiss MERLIN™
- Cañón de emisión de electrones por emisión de campo de punta caliente
- Permite observaciones de hasta 0.8nm de resolución espacial
- Voltajes de aceleración entre 0.02 y 30 kV
- Detectores de electrones secundarios y retrodispersados en la cámara y en la columna (in-lens)
- Detector EDS para Análisis de la Energía de los Rayos X dispersados INCA 350 de Oxford Instruments con resolución en energía de 127 eV a 5.9 KeV
- Detector EBSD (Electron Back Scatter Diffraction) para el registro y análisis de diagramas de Difracción de electrones retrodispersados y mapas de orientación cristalográfica
- Detector STEM
- Detector de cátodoluminiscencia SIGMA de Zeiss
- Modo "Ojo de pez", que permite tener una imagen en el interior de la cámara
- Sistema de control de vacío "Modo silencio" que desconecta la rotatoria periódicamente con el propósito de ahorrar energía y reducir ruido en el laboratorio
- Sistema de compensación de carga por inyección de nitrógeno. Este sistema permite la observación de muestras aislantes sin recubrir utilizando detectores de electrones de alto vacío
- Sistema de limpieza por plasma (“plasma cleaner”) y por inyección de oxígeno
- Entorno informático de Oxford , AZTec
- Software ESPRIT DynamicS para simulación de patrones EBSD de alta resolución
Microscopio electrónico de barrido (SEM) JEOL JSM 6400
- Puede generar imágenes de electrones secundarios y de electrones retrodispersados acelerados con tensiones desde 0,2 a 40 kV
- Permite observaciones hasta 3,5 nm. de resolución
- Lleva acoplado un sistema computerizado de Análisis de la Energía de los Rayos X dispersados INCA 300 X-Sight de Oxford Instruments con resolución en energía de 133 eV a 5.9 KeV
Microscopia electrónica de transmisión
Características de los microscopios electrónicos de transmisión T20 y F30
Acceso al
Microscopio electrónico de transmisión T20
Acceso al
Microscopio electrónico de transmisión TECNAI F30
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ACCESO ICTS-ELECMI
Para acceder al microscopio F30 en su modalidad ICTS ELECMI, por favor haga clic en el siguiente enlace y siga las instrucciones: ACCESO ICTS
El acceso a una ICTS es siempre competitivo por lo que se requiere una memoria científica evaluable sobre el trabajo a realizar en el equipo o, en su lugar, que el estudio a realizar se enmarque en un proyecto público competitivo nacional o internacional.
Para más detalles visite la web de ELECMI
-
ACCESO ESTÁNDAR
Para obtener acceso al microscopio F30 sin memoria científica previa, haga clic en el siguiente enlace: ACCESO ESTANDAR
Preparación de muestras
Adelgazador iónico GATAN DUO ION MILL
- Permite el adelgazamiento de muestras sólidas para la realización de observaciones de microscopia electrónica de transmisión
Adelgazador electrolítico STRUERS TECNUPOL-3
Unidad de impregnación STRUERS EPOVAC
Unidad de recubrimiento de alto vacío por pulverización catódica EM SCD500 y módulo CEA035 de evaporación de carbono, de Leica
Equipo de pulverización catódica BALZERS SCD 004
Medidor de espesores de los recubrimientos realizados BAL-TEC QSG-100
Pulidora esférica GATAN 656/3
Cortadora de precisión ISOMET 5000, de Buehler
- Dispone de goniómetro de precisión con control de tres ejes
Cortadora mecánica de discos DISC PUNCH GATAN 659
Cortadora de discos por ultrasonidos ULTRASONIC DISC CUTTER GATAN 601
Baño por ultrasonidos P-SELECTA
Desecador de muestras al vacio P-SELECTA
Pulidora de precisión Allied, Multiprep
Pulidora STRUERS LaboPol-4 con brazo LaboForce-1
Pulidora en trípode SOUTH BAY TECHNOLOGY 590P
Estereomicroscopio óptico Zeiss SteREO Discovery
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