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Servicio de microscopia electrónica de materiales
Dotación instrumental
Versión en español   English version
Microscopia electrónica de barrido
Microsonda electrónica JEOL JXA-iHP200F (Electron Probe Microanalyzer EPMA)

JEOL JXA-iHP200F Electron Probe Microanalyzer (EPMA)
  • Fuente: cañón de emisión de campo (FEG) para haces estables y diámetros <100 nm
  • Configurada para análisis químico cuantitativo de alta resolución espacial y espectral
  • Cuatro espectrómetros de dispersión de longitudes de onda WDS
    • Cobertura elemental desde Be hasta U, con difractores de multiláminas (LDE) para elementos ligeros
    • CH1: TAP, PETJ, LDE2, LDEB
    • CH2: TAPL, LDE1L
    • CH3: PETL, LIFL
    • CH4: PETL, LIFL
  • Espectrómetro EDS: detector SDD para adquisición simultánea de todos los elementos desde Be
  • Espectrómetro de rayos X blandos (SXES): JEOL SS-94040SXESR
    • Basado en rejillas de difracción y detector CCD
    • Rango espectral:
      • JS300N: 100–400 eV
      • JS2000: 350–2300 eV
    • Resolución energética:
      • 1.2 eV (FWHM @ Zr Mζ, JS300N)
      • 5.0 eV (FWHM @ Fe Lα, JS2000)
    • Permite el análisis de líneas Li–F K, así como líneas L y M de elementos de transición y metales pesados
    • Detecta cambios de estado químico y de valencia, con sensibilidad a la estructura de banda y enlaces químicos
  • Prestaciones analíticas
    • Voltaje de aceleración: 5–30 kV | Corriente de haz: 1 pA–10 µA
    • Resolución espacial: <1 µm (15 kV) | <100 nm en bajo kV
    • Límite de detección: 10–100 ppm | Precisión: ±1–2 % (elementos mayores)
    • Corrección de matriz: algoritmos ϕ(ρz) y ZAF
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) Carl Zeiss MERLIN™
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) Carl Zeiss MERLIN™
  • Cañón de emisión de electrones por emisión de campo de punta caliente
  • Permite observaciones de hasta 0.8nm de resolución espacial
  • Voltajes de aceleración entre 0.02 y 30 kV
  • Detectores de electrones secundarios y retrodispersados en la cámara y en la columna (in-lens)
  • Detector EDS para análisis de la energía de los rayos X dispersados X-Max (20mm2) con SSD (Silicon Drift Detector) de Oxford Instruments y resolución en energía por debajo de 123eV a 5.9 KeV del Mn Ka.
  • Detector HKL EBSD (Electron Back Scatter Diffraction), Nordlys II, para el registro y análisis de diagramas de difracción de electrones retrodispersados y mapas de orientación cristalográfica. Procesamiento de los mismos con CHANNEL5 o AZtec.
  • Detector STEM
  • Detector de cátodoluminiscencia SIGMA de Zeiss
  • Modo "Ojo de pez", que permite tener una imagen en el interior de la cámara
  • Sistema de control de vacío "Modo silencio" que desconecta la rotatoria periódicamente con el propósito de ahorrar energía y reducir ruido en el laboratorio
  • Sistema de compensación de carga por inyección de nitrógeno. Este sistema permite la observación de muestras aislantes sin recubrir utilizando detectores de electrones de alto vacío
  • Sistema de limpieza por plasma (“plasma cleaning”), Evactron E50 de XEI Scientific, Inc.
  • Software SmartSEM, AZtec, INCA y Channel5
  • Software ESPRIT DynamicS para simulación de patrones EBSD de alta resolución
Microscopia electrónica de transmisión
Microscopio electrónico de transmisión T20

Microscopio electrónico de transmisión TECNAI F30


Preparación de muestras
Equipos para preparación de muestras:


  • Pulidora STRUERS Tegramin - 20
  • Pulidora STRUERS LaboPol-4 con brazo LaboForce-1
  • Equipo de recubrimiento de alto vacío Leica EM ACE600
  • Unidad de recubrimiento de alto vacío por pulverización catódica EM SCD500 de Leica
  • Equipo de pulverización catódica BALZERS SCD 004
  • Cortadora de precisión ISOMET 5000, de Buehler
  • Unidad de impregnación STRUERS EPOVAC
  • Estereomicroscopio óptico Zeiss SteREO Discovery
Equipos para preparación de muestras