Estamos en ello
Por favor, espera...



Servicio de microscopia electrónica de materiales
Dotación instrumental
Versión en español   English version
Microscopia electrónica de barrido
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) Carl Zeiss MERLIN™

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) Carl Zeiss MERLIN™
  • Cañón de emisión de electrones por emisión de campo de punta caliente
  • Permite observaciones de hasta 0.8nm de resolución espacial
  • Voltajes de aceleración entre 0.02 y 30 kV
  • Detectores de electrones secundarios y retrodispersados en la cámara y en la columna (in-lens)
  • Detector EDS para análisis de la energía de los rayos X dispersados X-Max (20mm2) con SSD (Silicon Drift Detector) de Oxford Instruments y resolución en energía por debajo de 123eV a 5.9 KeV del Mn Ka.
  • Detector HKL EBSD (Electron Back Scatter Diffraction), Nordlys II, para el registro y análisis de diagramas de difracción de electrones retrodispersados y mapas de orientación cristalográfica. Procesamiento de los mismos con CHANNEL5 o AZtec.
  • Detector STEM
  • Detector de cátodoluminiscencia SIGMA de Zeiss
  • Modo "Ojo de pez", que permite tener una imagen en el interior de la cámara
  • Sistema de control de vacío "Modo silencio" que desconecta la rotatoria periódicamente con el propósito de ahorrar energía y reducir ruido en el laboratorio
  • Sistema de compensación de carga por inyección de nitrógeno. Este sistema permite la observación de muestras aislantes sin recubrir utilizando detectores de electrones de alto vacío
  • Sistema de limpieza por plasma (“plasma cleaning”), Evactron 25/45 de XEI Scientific, Inc.
  • Software SmartSEM, AZtec, INCA y Channel5
  • Software ESPRIT DynamicS para simulación de patrones EBSD de alta resolución
Control ambiental de sala y sesiones remotas en FESEM (medidas COVID-19)
  • Detector CO2 de Honeywell, pantalla protectora de metacrilato entre usuario y técnico, posibilidad de realizar sesiones remotas, videollamada...
Microscopio electrónico de barrido (SEM) JEOL JSM 6400

Microscopio electrónico de barrido (SEM) JEOL JSM 6400
  • Puede generar imágenes de electrones secundarios y de electrones retrodispersados acelerados con tensiones desde 0,2 a 40 kV
  • Permite observaciones hasta 3,5 nm. de resolución
Microscopia electrónica de transmisión
Microscopio electrónico de transmisión T20

Microscopio electrónico de transmisión TECNAI F30


Preparación de muestras
Equipos para preparación de muestras:


Adelgazador iónico GATAN DUO ION MILL
  • Permite el adelgazamiento de muestras sólidas para la realización de observaciones de microscopia electrónica de transmisión

Adelgazador electrolítico STRUERS TECNUPOL-3

Unidad de impregnación STRUERS EPOVAC

Equipo de recubrimiento de alto vacío Leica EM ACE600 Unidad de recubrimiento de alto vacío por pulverización catódica EM SCD500 de Leica.

Equipo de pulverización catódica BALZERS SCD 004

Medidor de espesores de los recubrimientos realizados BAL-TEC QSG-100

Pulidora esférica GATAN 656/3

Cortadora de precisión ISOMET 5000, de Buehler
  • Dispone de goniómetro de precisión con control de tres ejes
Cortadora mecánica de discos DISC PUNCH GATAN 659

Cortadora de discos por ultrasonidos ULTRASONIC DISC CUTTER GATAN 601

Baño por ultrasonidos P-SELECTA

Desecador de muestras al vacio P-SELECTA

Pulidora de precisión Allied, Multiprep

Pulidora STRUERS LaboPol-4 con brazo LaboForce-1

Pulidora en trípode SOUTH BAY TECHNOLOGY 590P

Estereomicroscopio óptico Zeiss SteREO Discovery
Adelgazador iónico GATAN DUO ION MILL
Equipo de recubrimiento de alto vacío Leica EM ACE600

Unidad de recubrimiento de alto vacío por pulverización catódica EM SCD500 y módulo CEA035 de evaporación de carbono, de Leica
Cortadora de precisión ISOMET 5000, de Buehler
Pulidora de precisión Allied, Multiprep