Se trata de una técnica de caracterización básica  de todo tipo de material con estructura cristalina (no amorfo). Esta técnica es no destructiva, lo que permite la recuperación del material estudiado sin ningún tipo de deterioro y nos indica el tipo de material que estudiamos.
Un compuesto cristalino puede considerarse como una agrupación periódica y ordenada de átomos. Cuando es alcanzado por un haz de radiación cuya longitud de onda es de similar magnitud a la distancia interatómica, éste se difunde dando lugar a diferentes tipos de interferencias que son constructivas en unas direcciones privilegiadas.
Así la intensidad del haz difractado depende de la disposición geométrica de los átomos y de la clase de átomos presentes. Esto hace que cada sustancia cristalina presente su propio espectro de difracción y éste sea una auténtica “huella dactilar” del mismo, permitiendo su identificación en cualquier mezcla donde esté presente.
Por ejemplo, un análisis convencional de una muestra podría decir que tiene oxígeno y silicio, pero a partir de la difracción de rayos X podemos determinar la clase de óxido de silicio (cuarzo, cristobalita, tridimita, etc.). Así mismo, el estudio teórico del espectro de difracción de un nuevo compuesto permite la determinación de su estructura.

La espectrometría de rayos X  es una técnica que permite el análisis elemental de una gran variedad de materiales de forma precisa y no destructiva. La técnica de fluorescencia de rayos X (XRF) consiste en irradiar la muestra con un haz de rayos X generando la emisión de rayos X  característicos  de los elementos presentes en la muestra. A esta emisión  se conoce como emisión de fluorescencia o radiación secundaria y presenta unas longitudes de onda características del átomo que las produce y una intensidad proporcional a la concentración de dicho átomo en la muestra.
Entre las ventajas de este método destacan:

Debido a estas ventajas esta técnica tiene un gran atractivo en investigación, industria y análisis de calidad.
En el servicio de fluorescencia de rayos X se realiza el análisis tanto cualitativo como cuantitativo de los elementos comprendidos entre el Fluor (F) y el Uranio (U).
También se dispone del programa “UNIQUANT” de Thermo scientific, que permite obtener, sin necesidad de patrones, un análisis semicuantitativo de cualquier tipo de muestra sólida o líquida.