El Servicio de microscopia electrónica de sistemas biológicos dispone de un nuevo microscopio de barrido de presión variable. Con él se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de las muestras.

La ventaja del modo en bajo vacío es que permite analizar muestras sin necesidad de metalizado previo o secado preparatorio, ahorrando así el coste y tiempo de estos procesos.

• Microscopio electrónico de barrido JEOL JSM 6360-LV con tensión hasta 30 kV y una resolución máxima de 3.0 nm. Desde x5 hasta x300.000 aumentos.
• Permite trabajar en modos de alto vacío para máxima resolución y de bajo vacío para muestras con humedad o de superficie no conductora (resolución máxima de 4.0 nm).
• En el modo de bajo vacío se trabaja a presión variable entre 1 Pa y 270 Pa.
• Dotado de detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados (composición, topografía y sombreado) en alto vacío y de retrodispersados para el modo en bajo vacío. Pletina eucéntrica mecánica asíncrona de 5 ejes con rotación e inclinación eucéntricas, que puede albergar muestras de hasta 15 cm de diámetro.

• El microscopio electrónico de barrido permite la observación y caracterización superficial de las muestras, entregando información morfológica del material analizado en áreas de aplicación tan diversas como:
  • Botánica, Biomedicina, Medicina Forense, Odontología,...
  • Investigación en Ciencias de la Tierra,...
  • Paleontología y Arqueología,...
  • Ciencias de los materiales, Metalurgia,..
  • Control de calidad, Peritajes,...
  • Electrónica, Química, Farmacia,...