Entre el 11 y el 15 de mayo se celebró en Mataró (Barcelona) el 18th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis (EMAS 2025), organizado por la Sociedad Europea de Microanálisis. Este congreso tiene como objetivo principal evaluar el estado actual de las técnicas de análisis mediante microscopia electrónica.
Los temas centrales de esta edición incluyeron: microanálisis por sonda de electrones (EPMA), difracción de electrones retrodispersados (EBSD), materiales de referencia y control de calidad, análisis con micro- y nanohaces en ciencias de la Tierra, y técnicas combinadas.
El Servicio General de Apoyo a la Investigación - SAI, y en particular el Servicio de microscopia electrónica de materiales, estuvo representado por el técnico responsable José Luis Díez, quien presentó la comunicación titulada “Installation of a Field Emission Electron Probe Microanalyser with Soft X-Ray Emission Spectrometry in University Research Support Services: Advancing Microanalysis Capabilities in Materials Research”. En ella se expusieron las capacidades actuales del servicio, mostrando ejemplos de los trabajos que se están realizando con la microsonda EPMA recientemente instalada. Esta contribución fue seleccionada tanto para la presentación de un póster como para una charla oral.
El evento ha resultado clave para establecer nuevas colaboraciones con servicios homólogos de otros países, actualizar conocimientos sobre el estado del arte en las técnicas que aplicamos y explorar nuevas posibilidades que ofrece el equipamiento disponible.
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